產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
日本日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150概述
固體分析分光光度計專家U-4100，實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的技術(shù)提高, UH4150問世！
現(xiàn)在，UH4150型分光光度計已經(jīng)面世，秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累計發(fā)售1,500*1多臺。
日本日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150特點(diǎn)
切換檢測器波長時會產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測定
檢測器切換時附近波長測定數(shù)據(jù)例
（金納米棒的吸收光譜）
安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。
日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學(xué)系統(tǒng)，秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測定。
平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測定
鏡面反射率測定示例
入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計值將與實(shí)際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。
可提供適合不同測定目的的多種檢測器
檢測器產(chǎn)品線
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3
采用全新人體工學(xué)設(shè)計
改進(jìn)樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計。
兼容多種U-4100附件
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
比U-4100型更高的樣品通量
在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定，顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
